Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3149053 obálek a 950526 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Gamma- and X-Ray Spectrometry with Semiconductor Detectors
Rok: 1988
ISBN: 9780444871077
OKCZID: 110212993
Citace (dle ČSN ISO 690):
DEBERTIN, Klaus. Gamma- and x-ray spectrometry with semiconductor detectors. Amsterdam: Elsevier, c1988. x, 399 s.
Anotace
This book covers the topics essential to gamma- and x-ray spectrometry as it is now practiced with semiconductor detectors in the energy range from 5keV to 3MeV. This includes useful physical and mathematical background information, the components of a standard photon spectrometer, spectrum analysis procedures, the energy and efficiency calibration, energy and emission-rate measurement methods and some application examples.