Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.

Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 2914375 obálek a 881714 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.

Registrovat »    Zapomenuté heslo?

Reliability and failure of electronic materials and devices

Autor: Milton Ohring with Lucian Kasprzak
ISBN: 9780120885749
OKCZID: 128522179

Citace (dle ČSN ISO 690):
OHRING, Milton. Reliability and failure of electronic materials and devices. 2nd ed. Amsterdam: Academic Press, c2015. xxiv, 734 s.


Anotace

Přidat anotaci

Buďte první a doplňte chybějící anotaci.


Napište na knížku první komentář!

Od: (127.0.0...)