Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.

Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 2916482 obálek a 882936 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.

Registrovat »    Zapomenuté heslo?

Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev : vývoj a aplikace zařízení = Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus



Autor: Petr Tichopádek
Rok: 2006
ISBN: 9788021431386
NKP-CNB: cnb001643216
OCLC Number: (OCoLC)85718801
OKCZID: 110697623

Citace (dle ČSN ISO 690):
TICHOPÁDEK, Petr. Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení =: Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus : zkrácená verze Ph.D. Thesis. [Brno: Vysoké učení technické], c2006, 31 s. Vě


Anotace

Přidat anotaci

Buďte první a doplňte chybějící anotaci.


Napište na knížku první komentář!

Od: (127.0.0...)